接觸電阻測試系統的研制

全部作者： 劉云 第1作者單位： 北京郵電大學(xué) 論文摘要： 接觸電阻是用來(lái)表示元器件接觸點(diǎn)之間好壞的標準之1，所以接觸電阻的測量必不可少，本文對接觸電阻測試儀的研制進(jìn)行了闡述，詳細介紹了系統的各部分組成以及各部分所完成的功能。 關(guān)鍵詞： 接觸電阻，4點(diǎn)法，模數轉換，串口通信 (瀏覽全文) 發(fā)表日期： 2007年07月31日 同行評議：

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