空間軌道單粒子翻轉率預估的小子樣法

全部作者： 任學(xué)明 賀朝會(huì ) 第1作者單位： 西安交通大學(xué)核科學(xué)與技術(shù)學(xué)院 論文摘要： 通過(guò)對半導體器件翻轉截面與重離子LET值的關(guān)系曲線(xiàn)的擬合，結合FOM方法和具體空間軌道環(huán)境，在Bayes理論的基礎上，提出了小樣本情況下預估同類(lèi)半導體器件在空間軌道上的單粒子翻轉率的新方法。應用該方法，預估了小樣本情況下同1批次器件在空間軌道上的單粒子翻轉率以及1定置信度下的翻轉率預估區間。 關(guān)鍵詞： 半導體器件，單粒子翻轉率，Bayes理論，小樣本 (瀏覽全文) 發(fā)表日期： 2007年10月25日 同行評議：

1.文章第3部分的內容冗長(cháng)，回歸分析是10分成熟的理論，不需要做詳細介紹，建議刪減； 2.另外，0.5的置信水平是否太低了，請考慮。

綜合評價(jià)： 修改稿： 注：同行評議是由特聘的同行專(zhuān)家給出的評審意見(jiàn)，綜合評價(jià)是綜合專(zhuān)家對論文各要素的評議得出的數值，以1至5顆星顯示。

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