LED檢修和LED電源設計實(shí)踐經(jīng)驗

　　在LED電源產(chǎn)品的設計過(guò)程中，工程師們需要處理的絕不僅僅是電路設計問(wèn)題，更多的是LED電源的驅動(dòng)方案選擇、LED的壽命維系以及后期的維護和檢修工作等。今天小編特別整理了一些在LED檢修和LED電源設計過(guò)程中的實(shí)用經(jīng)驗，歡迎大家參考。

　　第一個(gè)問(wèn)題：在設計LED電源產(chǎn)品時(shí)，怎么做才能設計出高品質(zhì)LED驅動(dòng)電路呢?

　　相信很多從事LED電源設計的工程師們都非常清楚，LED是目前世界上所研發(fā)的一種長(cháng)壽命的電子元件，理想狀況下的LED其工作壽命可達50000小時(shí)，但應用電路設計不合理、LED電源散熱性設計不好等因素，都會(huì )影響它的使用壽命。而面對這一問(wèn)題，使用能夠省去電解電容器的新一代LED驅動(dòng)IC，是一種切實(shí)可行的解決方案。

　　對于從事LED電源及周邊產(chǎn)品研發(fā)的工程師們來(lái)說(shuō)，在設計新一代的驅動(dòng)IC時(shí)，必須要打破以往傳統的DC-DC拓撲結構設計思維，可以采用恒功率、摒棄磁滯控制的降壓型設計思路來(lái)進(jìn)行新產(chǎn)品研發(fā)，采用定頻定電流控制也是一個(gè)好辦法。除此之外，高品質(zhì)的LED驅動(dòng)電路電路應力求簡(jiǎn)潔，減少元器件的使用數量，并有效提高PWM控制器的占空比等。滿(mǎn)足以上條件，所設計的新一代驅動(dòng)IC才能夠滿(mǎn)足高品質(zhì)驅動(dòng)電路的設計需求。

　　第二個(gè)問(wèn)題：LED被靜電擊穿的原理是什么樣子的?造成擊穿的原理是怎么回事呢?

　　在進(jìn)行LED電源的調試過(guò)程中，相信工程師們都曾經(jīng)遇到過(guò)接通樣機后，LED元件被擊穿的情況，這其中有相當一部分是被靜電所擊穿的。LED作為一種半導體，其本身的PN結是直接裸露在外頭的，很容易接觸靜電。當LED兩個(gè)電極上極性不同的電荷積累到一定的程度，又得不到及時(shí)釋放時(shí)，此時(shí)電荷能量一旦超過(guò)LED芯片最大承受值，電荷將以極短的瞬間在LED兩個(gè)電極層之間進(jìn)行放電，并在導電層之間局部會(huì )形成1400℃以上的高溫，高溫將會(huì )把導電層之間熔融成一些小孔，這就是我們在LED電源測試過(guò)程中，常遇到的LED擊穿現象了。

　　在進(jìn)行LED電源的新產(chǎn)品樣機測試時(shí)，一旦遇到LED元件被靜電擊穿的現象，說(shuō)明所設計的電路中有不合理的因素存在，此時(shí)工程師需要及時(shí)的進(jìn)行電路設計調整并重新測試。

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